正文

陷入因極性介質(zhì)分子偶極取向而形成的“極子”勢(shì)阱中的熱化電子。如果介質(zhì)為固體或玻璃基體，則陷落電子有較長(zhǎng)壽命；在液體中形成溶劑化電子是一種重要的陷落方式。

熱化電子?　電離輻射與物質(zhì)相互作用過(guò)程中產(chǎn)生的次級(jí)電子仍有較高的能量（＞100電子伏）,具有繼續(xù)激發(fā)或電離周?chē)橘|(zhì)分子的能力。通過(guò)與介質(zhì)分子的作用，次級(jí)電子的能量逐漸消耗而慢化，喪失激發(fā)或電離介質(zhì)分子的能力，直到它們的動(dòng)能與介質(zhì)分子的熱能等同，成為熱化電子。在能量降到熱能之前，如已脫離母體離子的庫(kù)侖場(chǎng)束縛而漂離母體離子一定距離(平均為幾納米)，則這種熱化電子才有可能成為陷落電子或溶劑化電子。

“極子”模型?　熱化電子在介質(zhì)中自由漂移，繼續(xù)與介質(zhì)分子相互作用，損失能量。如果介質(zhì)分子極性較大（如水分子），熱化電子自身引起的電場(chǎng)使原先無(wú)規(guī)取向的介質(zhì)分子偶極沿電場(chǎng)方向重新排列，形成極子，極子的正端朝向熱化電子，致使熱化電子陷落入由它們自身制造的極子勢(shì)阱中，成為陷落電子或溶劑化電子esolv。如果介質(zhì)是水分子，又叫水化電子eaq：

陷落電子

但也有理論認(rèn)為介質(zhì)中的“阱”是預(yù)存在的。

陷落電子的結(jié)構(gòu)和壽命?　陷落電子的幾何構(gòu)型分為鍵合取向和偶極取向兩種。以水化電子為例，最合理的模型是四個(gè)水分子與一個(gè)熱化電子構(gòu)成四面體結(jié)構(gòu)。電子陷入中心缺陷位置時(shí)，四面體角上的水分子偶極取向，其正端 (H)都朝向電子。六個(gè)水分子與一個(gè)熱化電子組成水化電子是鍵合取向八面體構(gòu)型。陷落電子的半壽期也因介質(zhì)分子而異，水化電子的半壽期為8×10-4 秒。

測(cè)定陷落電子產(chǎn)額的方法有動(dòng)態(tài)吸收光譜、特征單重態(tài)順磁共振譜和化學(xué)俘獲法等。